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品智創思APO超長半導體高倍測金相量顯微鏡是為檢測微波器件封裝、電子陶瓷封裝芯片、光通訊器件、TO封裝、蝶形封裝激光器、集成外腔半導體激光器、晶振封裝、濾波器封裝、集成電路封裝等有較高腔體產品檢測專業打造的，填補高倍率、高工作距離這一雙高檢測金相顯微鏡領域市場發展空白。不同于傳統的金相顯微鏡，

顯微鏡是由一個透鏡或幾個透鏡的組合構成的一種光學儀器，主要用于放大微小物體成為人的肉眼所能看到的儀器。分光學和電子：

M-100DIC型微分干涉數碼顯微鏡是一款性價比非常高的檢測用光學儀器。導電粒子金相顯微鏡采用無限遠光學成像系統，內置LED高亮度照明器,引入了微分干涉顯微觀察功能。雙目攝影觀察頭，體現了目視觀察的真實還原，以及數碼攝影與顯微成像的技術融合，觀察到的干涉圖像具有更強的立體感，適合于非透明材質的表面形態觀察，如液晶屏導電粒子的顯微形態。是精密制造領域內品質檢測、結構研究的理想儀器。

微分干涉金相顯微鏡適用于對工件表面的組織結構與幾何形態進行顯微觀察。采用無限遠光學系統與模塊化功能設計理念，可以方便升級系統，實現偏光觀察, DIC觀察等功能，導柱升降裝置，可以快速調整工作臺與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測。機械移動式載物平臺有效定位工件觀察部位。調焦機構采用圓柱滾子導向傳動，機構升降平穩。產品適用于精密零件，集成電路，包裝材料等產品檢測。

PZ-20BD型暗場金相顯微鏡采用無限遠光學系統，可提供光學性能。緊湊穩定的高剛性主體，充分體現了顯微操作的防振要求。模塊化的功能設計，可以方便升級系統，實現偏振觀察、暗視場觀察、明視場微分干涉觀察等功能。符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。可用于半導體硅晶片、LCD基板、固體粉未及其它工業試樣的顯微觀察，是材料學、精密電子工程學等領域研究的理想儀器。

PZ-20B型倒置金相顯微鏡采用無限遠光學系統，可提供光學性能。明場金相顯微鏡緊湊穩定的高剛性主體，充分體現了顯微操作的防振要求。模塊化的功能設計，可以方便升級系統，實現偏振觀察、暗視場觀察、明視場微分干涉觀察等功能。符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。可用于半導體硅晶片、LCD基板、固體粉未及其它工業試樣的顯微觀察，是材料學、精密電子工程學等領域研究的理想儀器